Fundamentos de cristalografia. Periodicidade, redes cristalinas e célula unitária. Sistemas cristalinos e redes de Bravais. Simetria cristalográfica, grupos de ponto e grupos espaciais. Índices de Miller, planos cristalográficos e espaço recíproco. Fundamentos da difração de raios X. Equações de Bragg e Laue. Fator de
espalhamento atômico e fator de estrutura. Extinções sistemáticas. Difração de raios X por materiais policristalinos e monocristalinos. Indexação, identificação de fases, refinamento estrutural e análise microestrutural. Solução, refinamento e validação de estruturas cristalinas.
PROGRAMA:
- Periodicidade, redes cristalinas, célula unitária e indexação.
- Sistemas cristalinos, redes de Bravais, planos cristalográficos e índices de Miller.
- Simetria cristalográfica: grupos de ponto, simetria translacional e grupos espaciais.
- International Tables for Crystallography: posições equivalentes, posições de Wyckoff e condições de reflexão.
- Espaço direto, espaço recíproco, Lei de Bragg, equações de Laue e construção de Ewald.
- Fator de espalhamento atômico, fator de estrutura, intensidades e extinções sistemáticas.
- Difração de raios X por policristais: instrumentação, indexação, identificação e quantificação de fases.
- Refinamento pelo método de Rietveld e análise de tamanho de cristalito e microdeformação.
- Difração de raios X por monocristais: coleta, indexação, integração, redução dos dados e determinação do grupo espacial.
- Solução, refinamento e validação de estruturas cristalinas; arquivos CIF e bancos de dados cristalográficos.
