Universidade Federal do Espírito Santo

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Informações Gerais
Disciplina:
Tópicos Especiais em Métodos de Análises Espectroscópicas e Difração ( DQF11132 )
Unidade:
Departamento de Química e Física
Tipo:
Optativa
Período Ideal no Curso:
Sem período ideal
Nota Mínima para Aprovação:
5.00
Carga Horária:
45
Número de Créditos:
3

Objetivos
Compreender os conceitos físicos e químicos, instrumentação, possibilidades e limitações de algumas de algumas das principais técnicas instrumentais utilizadas para caracterização de materiais, como a espectroscopia molecular na região do ultravioleta/visível, espectroscopia no infravermelho, espectrometria de massas, difração de raios-x. Possibilitar a aquisição de um conhecimento básico sobre as técnicas citadas e suas inúmeras aplicabilidades.

Ementa
A Teoria de Drude para os metais, Modelo do Elétron livre, Redes Cristalinas, Redes Recíprocas, Difração de ondas, Ligações Cristalinas e constantes elétricas, Fônos, Vibrações da rede Cristalinas, Espectroscopia de difração de raios X, Espectroscopia de Raios X Estendidos, Espectroscopia de raios X antes da borda

Bibliografia
- H.P. Klug & L.E. Alexander. “X-Ray Diffraction Procedures for Polycrystalline and Amorphous Materials, 1974. - G. Margaritondo. “Introduction to Synchrontron Radiation”, 1988. - B.D. Cullity. “Elements of X-Ray Diffraction”, 1956.

Bibliografia Complementar
- E.P. Bertin. “Principles and Practice of X-Ray Spectrometric Analysis”, 1984. - S.A.E. Johansson & J.L. Campbell. “PIXE a Novel Technique for Elemental Analysis”, 1988. - S.A.E. Johansson, J.L. Campbell & K.G. Malqvist. “Particle Induced X-Ray Emission Spectrometry (PIXE)”, 1995. - W.K. Chu, J.W. Mayer & M.A. Nicolet. “Backscattering Spectrometry”, 1978. - L.C. Feldman & J.W. Mayer. “Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis”, 1986.
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